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FLA-6606HL

FLA-6606HL高低温老化设备,是一款专门针对SSD 模组产品进行高低温RDT老化的设备。
设备采用专业工控机和Windows系统控制,能够同时支持PCIe、SATA 接口SSD 模组老化测试,腔体可在产生高温(低温)的同时确保温度精准。

詳細信息

性能特点

1:温度精准,产品周边温度稳定控制在±3°内

2:升降温速率快

3:可同时针对288pcs  PCIe(&SATA 7+15)SSD 模组进行老化测试

4:老化板独立可拔插替换式,方便更换与维护

5:预留MES 系统对接接口

6:更換不同接口即可兼容生产不同SSD 模组产品

7:单颗DUT 独立电源设计,保护产品


设备规格

设备型号FLA-6606HL
使用产品类别PCIe、SATA、M.2、U.2  SSD 模组
温度范围‘-40°~85°
测试DUT 数288pcs
电源三相380V
功率30KV
尺寸3350mm(长)*1450mm(深)*2300mm(高)
重量600kg